„Pásztázó alagútmikroszkóp” változatai közötti eltérés

 

Az STM-et 1981-ben fejlesztette ki [[Gerd Binnig]] és [[Heinrich Rohrer]] a [[zürich]]i IBM-nél, amiért fizikai Nobel-díjat kaptak 1986-ban. <ref name="Binnig">{{Cite journal|author=G. Binnig, H. Rohrer|title=Scanning tunneling microscopy|journal=IBM Journal of Research and Development|volume=30|page=4|year=1986}}</ref><ref>[http://nobelprize.org/nobel_prizes/physics/laureates/1986/press.html Press release for the 1986 Nobel Prize in physics]</ref>

Korábban R. Young, J. Ward, és F. Scire (NIST) hasonló találmányt alkottak. <ref>"The Topografiner: An Instrument for Measuring Surface Microtopography". NIST. http://nvl.nist.gov/pub/nistpubs/sp958-lide/214-218.pdf.</ref>

 

A mikroszkóp laterális felbontása: 0,1 nm, mélységi felbontása: 0,01 nm. <ref name="Bai">{{Cite book|author=C. Bai|title=Scanning tunneling microscopy and its applications|publisher=Springer Verlag|place=New York|year=2000|url=http://books.google.com/?id=3Q08jRmmtrkC&pg=PA345|isbn=3-540-65715-0}}</ref> Ez a felbontás lehetővé teszi egyedi atomok megjelenítését, és azok manipulálását. Az STM nem csak vákuumban használható, hanem levegőn, vízben, vagy más közegben is. A működési hőmérsékleti tartomány közel zéró Kelvintől néhány száz Celsiusig terjedhet. <ref name="Chen">{{Cite book |author=C. Julian Chen |title=Introduction to Scanning Tunneling Microscopy |year=1993 |url=http://www.columbia.edu/~jcc2161/documents/STM_2ed.pdf |isbn=0-19-507150-6 |publisher=Oxford University Press}}</ref>

 

A felbontás korlátja a tű görbületének a sugara. Örvényáramok korlátozása is része a technológiának. Képfeldolgozó szoftverek segítségével tovább lehet növelni a képi hatást, akár 3D-ben is.<ref> R. V. Lapshin (1995). "Analytical model for the approximation of hysteresis loop and its application to the scanning tunneling microscope" (PDF). Review of Scientific Instruments 66 (9): 4718–4730. Bibcode 1995RScI...66.4718L. doi:10.1063/1.1145314. http://www.nanoworld.org/homepages/lapshin/publications.htm#analytical1995. (Russian translation is available).</ref><ref> R. V. Lapshin (2007). "Automatic drift elimination in probe microscope images based on techniques of counter-scanning and topography feature recognition" (PDF). Measurement Science and Technology 18 (3): 907–927. Bibcode 2007MeScT..18..907L. doi:10.1088/0957-0233/18/3/046. http://www.nanoworld.org/homepages/lapshin/publications.htm#automatic2007.</ref>

Az STM felhasználásával lehetővé vált felületek nanomanipulációja.

 

== Jegyzetek ==