„Fáziskontraszt-mikroszkóp” változatai közötti eltérés

Az [[Ernst Abbe|Abbe-féle]] elmélet szerint a képalkotásban fontos szerepet játszik a mintán, mint diffrakciós rácson való [[diffrakció|elhajlás]], és a mintán átjutó nyalábok fókuszsíkban bekövetkező interferenciája révén keletkezik a kép. A fizikai optikával foglalkozó Frits Zernike az 1930-as években a spektrumvonalakkal kapcsolatban jött rá, hogy az elsőrendű vonalak mellett jobbra és balra megjelenő szellem vonalakat a spektrométerben használt – a hullámhossz szerinti bontást biztosító – optikai rács hozza létre és ezekben fénynyalábokban a fázis 90°-al el van tolódva a fővonalhoz képest. Később foglalkozott az optikai leképező rendszerek, a mikroszkóp és a teleszkóp képalkotási hibáinak elméleti vizsgálatával is.<ref name="frs">{{Cite journal | last1 = Tolansky | first1 = S. | doi = 10.1098/rsbm.1967.0021 | title = Frits Zernike 1888-1966 | journal = [[Biographical Memoirs of Fellows of the Royal Society]] | volume = 13 | pages = 392–326 | year = 1967 | pmid = | pmc = }}</ref> 1942-banben publikálta ötletét arról, hogy a leképezésben résztvevő nyalábok fázisának egymáshoz képesti eltolásával befolyásolni lehet az interferencia eredményét, más szóval kontrasztosabb képet lehet nyerni.<ref name="ZernikeII">{{cite journal | author=Frits Zernike | title=Phase contrast, a new method for the microscopic observation of transparent objects part II | journal=Physica | volume=9 | issue=10 | pages=974–980 | year=1942 | doi=10.1016/S0031-8914(42)80079-8|bibcode = 1942Phy.....9..974Z }}</ref>