„Atomerő-mikroszkóp” változatai közötti eltérés

=== Felépítés ===

A 3-as ábra mutatja be, hogy hogyan néz ki általában egy AFM.<ref>[https://www.google.com/patents/US4724318 Patent US4724318 - Atomic force microscope and method for imaging surfaces with atomic resolution]</ref> A zárójelekben lévő számok a kép alatt vannak megmagyarázva, hogy mit jelentenek. A koordináták iránya a (0) koordináta-rendszer által meghatározott irányokat követik.[[Fájl:AFM conf.jpg|bélyegkép|'''3-as ábra''': Az AFM általános felépítése. (1) Tartókar, (2) Tartóállvány a tartókarhoz, (3) Piezoelektromos alkatrész (rezgésbe hozza a tartókart, annak sajátfrekvenciáján), (4) Hegy (a tartókar szabad végéhez van erősítve, a szonda szerepét tölti be), (5) A tartókar mozgás- és elhajlásérzékelője, (6) A minta, (7) Mozgó talapzat, (8) A munkapad. ]]A kicsiny rugó-szerű [[Konzol (befogott tartó)|tartókar]] (1) egy tartóállványhoz (2) van erősítve. Nem kötelező jelleggel, egy piezoelektromos alkatrész (általában valamilyen kerámiából készül) (3) segít rezgésbe hozni a tartókart. Az éles hegy (4) a tartókar (1) szabad végéhez van erősítve. Az érzékelő (5) feljegyzi a tartókar (1) mozgását és elhajlását. A minta (6) a munkapadra (8) van felhelyezve. Egy térben (xyz szerint) mozgó talapzat (7) biztosítja a minta (6) és a munkapad (8) elmozdítását x, y és z irányok szerint a csúcsos hegyhez képest (4). Habár a 3-as ábra úgy mutatja, hogy a munkapad a mintához van erősítve, a munkapad a hegyhez is erősíthető, sőt egymástól független munkapadok erősíthetők mindkettőhöz, ugyanis végsősoron a minta-hegy relatív mozgását kell kontroll alatt tartani. Az irányító karok és a grafikont kirajzoló szerkezet nincs feltüntetve a 3-as ábrán.

 

=== Érzékelő ===