„Atomerő-mikroszkóp” változatai közötti eltérés
| [nem ellenőrzött változat] | [nem ellenőrzött változat] |
Tartalom törölve Tartalom hozzáadva
→Fordítás: nemzetközi katalógusok |
a Helyesírási hibák, kifejezések |
||
1. sor:
[[Fájl:Atomic force microscope block diagram.svg|bélyegkép|Az atomerő-mikroszkóp által használt lézernyaláb visszaverődéses érzékelési módszerének elvi rajza látható. Ahogyan a tartókar kimozdul a felülettel való kölcsönhatás révén, ugyanígy a lézer visszaverődött nyalábja is elmozdul a fotodióda felületén.]]
Az '''atomerő-mikroszkópia''' (atomic force microscopy – AFM) vagy '''pásztázóerő-mikroszkópia''' (scanning force microscopy – SFM) egy nagyon magas felbontású pásztázószondás
== Áttekintés ==
13. sor:
Képalkotás céljából a felület által a szondára gyakorolt erők visszahatásából nagy felbontású háromdimenziós kép készíthető a felületről (topográfia). Az ún. raszterpásztázással megméri a minta pozicíóját a letapogató hegyhez képest és feljegyzi a szonda magasságát, amely egy jól ismert konstans szonda-minta kölcsönhatásnak felel meg. A felületi topográfiát általában egy [[pszeudoszín]] grafikon segítségével ábrázolják.
[[Fájl:Atomic force microscope by Zureks.jpg|bélyegkép|Egy atomerő-mikroszkóp bal oldalt az őt irányító számítógéppel jobb oldalt]]
Anyagmanipuláció során a hegy és az anyag között fellépő erők arra is használhatók, hogy az anyag tulajdonságait tegyék próbára, természetesen egy felügyelt módon. Erre példaként az atomi manipulációkat, a [[
Egyidőben a topográfia képalkotással, más tulajdonságai is megmérhetőek az anyagnak helyileg és természetesen ábrázolhatóak kép formájában, sokszor hasonlóan nagy felbontásban. Ilyen tulajdonságokra példaként adható, mint mechanikai tulajdonság a merevség, keménység vagy adhéziós mérték, illetve, mint elektromos tulajdonság a vezetőképesség vagy felületi potenciál. Tulajdonképpen nagyrésze az SPM eljárásoknak kiegészítői az AFM-nek amely ez ilyen folyamatokat használja.
20. sor:
A jelentős különbség az atomerő mikroszkópia és más versenyképes technológiák (pl. optikaimikroszkópia, elektronmikroszkópia) között az, hogy az AFM nem használ sem lencséket, sem sugárzást. Éppen ezért, nem is limitált a térbeli felbontást illetően a diffrakció vagy aberrációk miatt, továbbá az sem szükséges, hogy előkészítsük az elektron sugár számára a teret annak megfelelő irányítása végett (vákuumot kellene létrehozni) és nélkülözhetjük a minta megjelölését is.
[[Fájl:Atomic Force Microscope.ogv|bélyegkép|Az atomerő-mikroszkóp működése]]
Rengeteg fajta pásztázó mikroszkópia létezik, úgy, mint a
=== Felépítés ===
| |||