„Pásztázó alagútmikroszkóp” változatai közötti eltérés
[ellenőrzött változat] | [ellenőrzött változat] |
Tartalom törölve Tartalom hozzáadva
a →Működése: Protokollcsere (WP:BÜ), replaced: http://books.google. → https://books.google. AWB |
|||
8. sor:
== Története ==
Az STM-et 1981-ben fejlesztette ki [[Gerd Binnig]] és [[Heinrich Rohrer]] a [[zürich]]i IBM-nél, amiért fizikai Nobel-díjat kaptak 1986-ban.
Korábban R. Young, J. Ward, és F. Scire a [[NIST]]-nél hasonló [[találmány]]t alkottak.
== Működése ==
A mikroszkóp laterális felbontása: 0,1 nm, mélységi felbontása: 0,01 nm.
A STM működési alapja az alagúthatás. Amikor egy vezető tűt a vizsgálandó felülethez közelítünk igen közel, nanométer nagyságrendben, a tárgy és a tű közé alkalmazott elektromos tér hatására [[alagúthatás]] jön létre, elektronok fognak alagutazni. A keletkező alagútáram a tű pozíciójának, az alkalmazott feszültségnek és a vizsgálandó minta felületi sűrűségének a függvénye.<ref name="Chen"/>
19. sor:
A STM telepítése különleges helyszínt igényel: nem lehet vibráció, stabil alapon kell a műszert működtetni. Az eredeti műszernél mágneses levitációt alkalmaztak a vibrációk kiküszöbölésére. Újabban speciális mechanikus rugózást vagy [[gázrúgó]]t alkalmaznak.
Kettő tű alkalmazása jobb képet alkot. A tű anyag általában [[volfrám]], de lehet [[platina]]-[[irídium]], vagy [[arany]] is.
A felbontás korlátja a tű görbületének a sugara. Örvényáramok korlátozása is része a technológiának. Képfeldolgozó szoftverek segítségével tovább lehet növelni a képi hatást, akár 3D-ben is.<ref> R. V. Lapshin (1995). "Analytical model for the approximation of hysteresis loop and its application to the scanning tunneling microscope" (PDF). Review of Scientific Instruments 66 (9): 4718–4730. Bibcode 1995RScI...66.4718L. doi:10.1063/1.1145314. http://www.nanoworld.org/homepages/lapshin/publications.htm#analytical1995. (Russian translation is available).</ref><ref> R. V. Lapshin (2007). "Automatic drift elimination in probe microscope images based on techniques of counter-scanning and topography feature recognition" (PDF). Measurement Science and Technology 18 (3): 907–927. Bibcode 2007MeScT..18..907L. doi:10.1088/0957-0233/18/3/046. http://www.nanoworld.org/homepages/lapshin/publications.htm#automatic2007.</ref>
|